睡眠压力在清醒期间积累、触发睡眠并在睡眠期间消散的生物学基础目前仍未明确。近日,东京大学国际神经智能研究中心的Shoi Shi教授在Science杂志上发表了一篇重要论文,通过新颖的方式很好地解答了这个问题。
原文链接:
https://www.science.org/doi/10.1126/science.adl3043
睡眠和清醒伴随着神经活动的显著变化。在非快速眼动(NREM)睡眠中,皮层神经元表现出同步化的“上行”和“下行”状态的交替,产生低频、高振幅的慢波(δ波)。相比之下,清醒时神经元处于去同步化的放电模式,产生高频、低振幅的群体活动。虽然昼夜节律和皮层下神经回路已被证明调控了睡眠-清醒的快速转换,但稳态睡眠压力在睡眠长度和深度中的作用机制仍不明确。
NREM睡眠中的δ波功率是衡量睡眠压力的重要指标,神经元的同步“下行”状态被认为是单细胞层面睡眠压力的电生理体现。另一方面,已有研究表明,延长清醒时间会增加突触强度,引起树突棘增大。突触强度被认为可能是睡眠压力的关键决定因素。然而,突触强度增加与电生理变化之间的直接因果关系尚未被证实。
在这篇工作中,作者从建立数学模型开始,利用高密度MEA在离体条件下进行了验证,最终,结合化学遗传学工具,在活体动物上证实兴奋性突触强度可以决定睡眠压力的大小,PFC兴奋性神经元中突触强度的变化可以调节NREM睡眠的时长和EEG δ波功率。
一.EIN(兴奋性-抑制性神经网络)模型
作者首先从理论出发,建立EIN模型,这个模型可以模拟增强的突触强度促进神经元超极化,从而增加脑电图 (EEG) delta 功率。
图1. EIN模型示意图
E、I分别代表兴奋性和抑制性神经元,WEE,WII分别是回返兴奋性和抑制性突触强度(recurrent excitatory/inhibitory synaptic Strength),WIE,WEI分别是兴奋性到抑制性神经元和抑制性到兴奋性神经元的突触强度。
图2. EIN模型的电生理特性
B图展示了该模型在两种不同回返兴奋性连接强度(中等和强)条件下的神经放电情况。在中强度WEE下(左侧),兴奋性神经元的放电迅速被抑制性神经元的作用所抵消,导致神经元群体保持稳定的适应性“上行”状态。在高强度WEE下(右侧),由于突触连接增强,抑制性作用变得不足,导致上行状态的稳定性降低,促进了适应性“上行-下行”状态的产生。模型预测突触增强和适应性效应共同作用,决定了皮层的神经活动状态,并且高强度WEE有助于产生“上行-下行”交替状态。
那么EIN模型的预测是否符合真实的神经网络呢?接下来,研究人员利用高密度MEA在离体条件下进行了验证。
二.离体高密度MEA验证
图3. MaxWell高密度MEA
作者这里使用了MaxWell高密度MEA来进行离体验证,其芯片集成了26400个记录位点,并具有很高的信噪比,能够同时记录大量神经元的放电。这使得高密度MEA非常适合用来研究神经网络水平的电生理特性。
图4. 随着突触强度的增加,培养神经元逐渐产生明显的“上行-下行”状态,并且局部场电位的delta波段功率增加
利用高密度MEA检测培养神经元的群体电活动和局部场电位,研究团队使用S18986(一种AMPA受体的正变构调节剂)模拟突触增强效应。在高浓度S18986处理下,研究人员观察到神经元群体中“下行”状态的增加,以及局部场电位的delta功率显著提升。这种离体模拟突触增强的结果与EIN模型的预测一致,说明突触强度增强确实可以引起神经网络“上行-下行”状态大幅度波动以及delta功率增加。
三.活体动物上的验证
在后续的工作中,作者开发了一种化学遗传学工具SYNCit-K,能够引起树突棘增大和兴奋性突触功能增强。
图5. 对前额叶皮层兴奋性神经元进行SYNCit-K诱导引起NREM睡眠加长和加深
作者通过局部注射两种腺相关病毒(AAVs)将SYNCit-K构建体引入背内侧PFC的兴奋性神经元中。术后两周,通过脑电图(EEG)和肌电图(EMG)记录分析睡眠结构。在暗周期(即小鼠活跃期)开始时,腹腔注射A/C异二聚体化剂后,与载体组相比,SYNCit-K组表现出NREM睡眠增加、清醒时间减少的现象,而快速眼动(REM)睡眠没有显著变化。
四. 结论
通过将EIN模型与培养的皮层神经元在MEA系统上的实验相结合,作者在理论和实验上证明了兴奋性突触强度可以产生睡眠压力。通过开发和应用SYNCit-K,作者进一步验证了PFC兴奋性神经元中突触强度的变化能够调节NREM睡眠时间和EEG δ波功率。结合突触强度在昼夜节律和睡眠-觉醒周期中的变化,这些结果表明,PFC的突触强度在编码稳态睡眠需求中发挥着重要作用。
原标题:Science新论文:利用离体高密度MEA研究睡眠机制
本文转载于微信公众号:Leads神经影像与电生理(ID:Leads_Bio-Tech),转载引用请注明原出处